Loading...
本文介绍了静电放电（ESD）对电子设备的影响，包括HBM和CDM两种模型。CDM模型模拟带电器件对地放电，上升时间短，电流峰值大，维持时间短，保护电路难以...
本文介绍了接口腐蚀问题及其防护措施。腐蚀通常由金属氧化和水蒸气凝结引起，导致导电性变差和短路。实验方法包括泡水、淋雨、双85、6595等，以评估整机腐蚀防...
