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本文介绍了静电放电(ESD)对电子设备的影响,包括HBM和CDM两种模型。CDM模型模拟带电器件对地放电,上升时间短,电流峰值大,维持时间短,保护电路难以...
本文介绍了接口腐蚀问题及其防护措施。腐蚀通常由金属氧化和水蒸气凝结引起,导致导电性变差和短路。实验方法包括泡水、淋雨、双85、6595等,以评估整机腐蚀防...