Articles under the label of 实验

本文介绍了静电放电（ESD）对电子设备的影响，包括HBM和CDM两种模型。CDM模型模拟带电器件对地放电，上升时间短，电流峰值大，维持时间短，保护电路难以及时响应。ESD测试主要采用HBM模型，分为接触放电和空气放电。测试方法遵循IEC61000-4-2和EN301489-1标准。静电辐射频率成分不...

本文介绍了接口腐蚀问题及其防护措施。腐蚀通常由金属氧化和水蒸气凝结引起，导致导电性变差和短路。实验方法包括泡水、淋雨、双85、6595等，以评估整机腐蚀防护。防护措施包括金属表面镀层、防水措施和降低电压。开发过程中，通过拆机和测试整机气密性来分析异常。新款Lightning接口采用铑钌工艺，提高耐用...